碳硅仪-埃克申-碳硅仪

红外碳硅分析仪的分析的方法

hw2000高频红外碳硅分析仪主要技术指标：

测量范围：碳0.0001%-15000%（可扩至99.999%）

         硫0.0003%-2.0000% (可扩至99.999%)

分析误差：碳符合iso9556-94标准  硫符合iso4935-94标准

分析时间：25-60秒可调（一般在35秒左右）

电子天平：称量范围0-100克读数精度：0.001克

hw2000高频红外碳硅分析仪主要特点：

高频感应燃烧、红外检测法，性能稳定、---、结果准确

品牌电脑，中文操作、彩色画面、界面清晰、操作简单、方便

动态显示分析仪器过程中的各项数据和碳、硫释放曲线，可储存多条曲线

采用炉头加热、螺旋式自动清扫装置，提高了测量精度；

电子天平不定量称样，提高了分析速度；

如何正---养碳硅分析仪

碳硅分析仪打开电源，进入测量准备状态。当测量状态提示框提示“样杯准备完毕”时，即可进行铁水测量。铁水注入样杯、当传送的温度信号超过1000℃时，仪器自动进入测量状态。冷却曲线开始下降时，tmax栏显示样杯内测到的铁水罪高温度。初晶温度被检出时，温度曲线区域出现黄色提示框指向初晶点，tl栏显示铁水的初晶温度值，ces栏显示测出的铁水碳当量值。共晶温度被检出时，温度曲线区域出现黄色提示框指向共晶点，te栏显示铁水的共晶温度值，碳硅分析仪，c%栏显示铁水的有校含碳量，si%栏显示铁水的有校含硅量，cec栏显示由（c+si/3）计算出的碳当量量值。温度曲线描画到时间坐标终点或温度下降到1000℃以下或从杯座上取下样杯时，仪器退出测量状态。测量完成后，应马上从杯座上取下红热样杯，否则红热样杯的传导热会逐渐将杯座烧坏。测量过程中在到共晶温度之前样杯出现断偶时，应更换新样杯重新浇入铁水进行测量。